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M. Sc. Michél Hauer, Dipl.-Ing. (SFI) Richard Banaschik, Univ.-Prof. Dr.-Ing. habil. (SFI) Knuth-Michael Henkel

Qualifizierung der Laserlinientriangulation zur optischen Inline-Schichtdickenmessung an plasmagespritzten Keramik- und Metall-Schichten

Thermal Spray Bulletin 69 (2017) [2] 112 - 116
Fachbeiträge; Specialist Articles


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